Kompetenzen

Umfangreiche Erfahrung in der Querschnitts- und Aufsichtspräparation von Halbleitern, Metallen, Polymeren und Nanosystemen sowie deren Charakterisierung. An den beiden  TEMs des OWL-AC wurden seit der Inbetriebnahme u. A. folgende Prob

• Nanostrukturierte Si-Oberflächen
• Defekte und chemische Elementverteilung in ZnO-Filmen auf Saphir
• Orientierung von Metallfilmen auf Halbleitern
• ZnO Tetrapoden und Nanodrähte
• Kohlenstofffasern und ihre Grenzflächen
• Defekte und Phasen in Al-Basislegierungen
• Struktur und Größenverteilung von Perovskit-Nanoteilchen für Solarzellen
• ZnO Nanowand-Netzwerk-Mikro-Hohlkugeln
• SiO Nanoporen mit Cu-Katalysator-Nanoteilchen
• Graphenoxid Quantenpunkte
• Form von Nanoporen in Blockcopolymer-Nanomustern
• CdTe/CdS-Kern-Schale-Nanoteilchen
• Defekte und Spannungen in heteroepitaktischen InAs/GaAs Nanostrukturen
• Morphologie von Polystyrol-Nanokugeln
• Magnetfelder in Co Nanopartikeln
• Multilagen-Magnetfelddetektor-Bauelemente
• Halb-Häusler-Legierungen
• Elektrische Felder in Halbleitern
• Au Nanoteilchen
• Stranski-Krastanov Quantenpunkte in Halbleitern
• Gefügestruktur von 316er Edelstahl
• Kristallstruktur von Dünnschicht- sowie Nanopartikelsystemen mittels HRTEM und SAED
• Rauhigkeits- und Diffusionsanalyse (EDX) in Dünnschichtsystemen
• Lorentz-TEM und EMCD an magnetischen Schichten
• Kryo-TEM an Mikrogelen sowie biologischen Systemen (z.B. Kollagenfasern)